Microscopía electrónica de barrido y microanálisis de rayos X: Un texto para biólogos, científicos de materiales y geólogos

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Título original:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists

Contenido del libro:

Este libro ha evolucionado mediante procesos de selección y ampliación a partir de su predecesor, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), publicado por Plenum Press en 1975.

La interacción de los autores con los estudiantes del Curso Corto de Microscopía Electrónica de Barrido y Microanálisis de Rayos X que se celebra anualmente en la Universidad de Lehigh ha ayudado en gran medida al desarrollo de este libro de texto. El material se ha elegido para proporcionar al estudiante una introducción general a las técnicas de microscopía electrónica de barrido y microanálisis de rayos X adecuada para su aplicación en campos como la biología, la geología, la física del estado sólido y la ciencia de los materiales.

Siguiendo el formato de PSEM, este libro proporciona al estudiante un conocimiento básico de (1) las funciones controladas por el usuario de la óptica electrónica del microscopio electrónico de barrido y de la microsonda electrónica, (2) las características de las interacciones electrón-haz-muestra, (3) la formación e interpretación de imágenes, (4) la espectrometría de rayos X, y (5) el microanálisis cuantitativo de rayos X. Cada uno de estos temas se ha actualizado y, en la mayoría de los casos, ampliado con respecto al material presentado en PSEM con el fin de proporcionar al lector una cobertura suficiente para comprender estos temas y aplicar la información en el laboratorio. A lo largo de todo el texto, hemos intentado hacer hincapié en los aspectos prácticos de las técnicas, describiendo aquellos parámetros de la instrumentación que el microscopista puede y debe manipular para obtener una información óptima de la muestra.

Algunas áreas en particular se han ampliado en respuesta a su creciente importancia en el campo de la MEB. Así, la espectrometría de rayos X de energía dispersiva, que ha experimentado un enorme crecimiento, se trata con gran detalle.