Microscopía electrónica de barrido y microanálisis de rayos X: Tercera edición

Opiniones de los lectores

El libro sobre microscopía electrónica de barrido (MEB) está muy bien considerado como un recurso completo y accesible tanto para principiantes como para usuarios experimentados. Abarca los principios básicos y los detalles técnicos de forma clara y concisa, lo que lo convierte en una excelente opción para quienes trabajan con MEB. Aunque el libro ha sido elogiado por su organización, ilustraciones y profundidad de la información, algunos lectores señalan que a veces puede resultar prolijo y que hay problemas menores de entrega y estado.

Estilo de redacción claro y conciso, bien ilustrado, estructura organizada, cubre tanto los fundamentos como el contenido técnico detallado, adecuado tanto para principiantes como para usuarios experimentados, excelente material de referencia, precio razonable.

A veces algo prolijo, retrasos menores en la entrega, problemas de estado en algunos ejemplares (páginas sueltas), algunos usuarios mencionan que las ecuaciones podrían mejorarse.

(basado en 24 opiniones de lectores)

Título original:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Contenido del libro:

Este texto, ideal tanto para estudiantes como para profesionales, es una introducción exhaustiva al campo de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y el microanálisis de rayos X.

El texto se ha utilizado para formar a más de 3.000 estudiantes en el curso corto de SEM de Lehigh, así como a miles de estudiantes de grado y posgrado en universidades de todo el mundo. Los autores hacen hincapié en los aspectos prácticos de las técnicas descritas.

Los temas tratados incluyen funciones controladas por el usuario de microscopios electrónicos de barrido y espectrómetros de rayos X y el uso de rayos X para análisis cualitativos y cuantitativos. En capítulos separados se tratan los métodos de preparación de muestras SEM para materiales duros, polímeros y especímenes biológicos.