Microscopía electrónica de barrido y microanálisis de rayos X: Tercera edición

Opiniones de los lectores

El libro sobre microscopía electrónica de barrido (SEM) recibe críticas abrumadoramente positivas de los usuarios, muchos de los cuales elogian su claridad, organización y exhaustividad. Se considera una referencia definitiva tanto para principiantes como para usuarios experimentados. Los usuarios aprecian las ilustraciones y el estilo de redacción comprensible, que hace más accesibles los conceptos complejos. Sin embargo, algunas críticas mencionan la verbosidad y problemas con el estado de algunos ejemplares recibidos.

⬤ Bien organizado e informativo
⬤ redacción clara y concisa
⬤ fácil de usar tanto para principiantes como para usuarios experimentados
⬤ excelentes ilustraciones
⬤ cobertura exhaustiva de los fundamentos y técnicas de SEM
⬤ envío rápido
⬤ buen estado de los ejemplares nuevos.

⬤ En algunas reseñas se menciona a veces la verbosidad
⬤ se recibieron algunos ejemplares en condiciones menos que prístinas
⬤ el plazo de entrega de Amazon fue más largo de lo esperado.

(basado en 24 opiniones de lectores)

Título original:

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: Third Edition

Contenido del libro:

Este texto, ideal tanto para estudiantes como para profesionales, es una introducción exhaustiva al campo de la microscopía electrónica de barrido (SEM) y el microanálisis de rayos X.

El texto se ha utilizado para formar a más de 3.000 estudiantes en el curso corto de SEM de Lehigh, así como a miles de estudiantes de grado y posgrado en universidades de todo el mundo. Los autores hacen hincapié en los aspectos prácticos de las técnicas descritas.

Los temas tratados incluyen funciones controladas por el usuario de microscopios electrónicos de barrido y espectrómetros de rayos X y el uso de rayos X para análisis cualitativos y cuantitativos. En capítulos separados se tratan los métodos de preparación de muestras SEM para materiales duros, polímeros y especímenes biológicos.