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Título original:
Spectroscopic Ellipsometry and Reflectometry: A User's Guide
Contenido del libro:
La elipsometría se utiliza para medir el grosor y las propiedades ópticas de las películas finas.
En los últimos años, la espectroscopia elipsométrica y la reflectometría, estrechamente relacionada con ella, han conquistado cada vez más los laboratorios industriales. Esto crea la necesidad de una introducción práctica para un público interdisciplinario de científicos de materiales, físicos, químicos e ingenieros eléctricos, como se ha conseguido con este libro.
(04/99)
Otros datos del libro:
| ISBN: | 9780471181729 |
| Autor: | |
| Editorial: | |
| Idioma: | inglés |
| Encuadernación: | Tapa dura |
| Año de publicación: | 1999 |
| Número de páginas: | 248 |
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