Una nueva prueba secuencial de bondad de ajuste para la distribución gamma de tres parámetros con forma conocida basada en la asimetría y la curtosis

Una nueva prueba secuencial de bondad de ajuste para la distribución gamma de tres parámetros con forma conocida basada en la asimetría y la curtosis (H. Park Chil)

Título original:

A New Sequential Goodness of Fit Test for the Three-Parameter Gamma Distribution with Known Shape Based on Skewness and Kurtosis

Contenido del libro:

Esta investigación presenta una prueba secuencial de bondad de ajuste para la distribución gamma de tres parámetros con forma conocida. La prueba se realiza empleando las dos nuevas pruebas, asimetría y curtosis muestrales, secuencialmente como estadísticos de prueba.

A diferencia de la bondad de ajuste típica que utiliza métodos de estimación de parámetros como MLE (estimación de máxima verosimilitud) y MD (estimación de distancia mínima). Estas pruebas secuenciales de bondad de ajuste utilizando dos estadísticos de prueba anteriores no implican un grado sustancial de complejidad computacional. Los valores críticos se obtienen mediante grandes simulaciones de Monte Carlo, que utilizan la función "percentil", para formas de 0.

5(0. 5)4.

0 y tamaños de muestra de 5(5)50. Los niveles de significación alcanzados para todas las combinaciones de las dos pruebas entre = 0:01(0:01)0:20 también se aproximan con simulaciones de Montecarlo.

A continuación, se llevan a cabo amplios estudios de potencia frente a dos conjuntos de alternativas. Uno es contra distribuciones alternativas comunes y el otro es un estudio comparativo cuyo competidor son estadísticos populares de pruebas EDF como las pruebas de Anderson-Darling, Cramer-von Mises y Komogrov-Smirove.

Otros datos del libro:

ISBN:9781249842279
Autor:
Editorial:
Idioma:inglés
Encuadernación:Tapa blanda

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Última modificación: 2024.11.14 07:32 (GMT)