Presentación del autor H. Park Chil:

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Una nueva prueba secuencial de bondad de ajuste para la distribución gamma de tres parámetros con forma conocida basada en la asimetría y la curtosis - A New Sequential Goodness of Fit Test for the Three-Parameter Gamma Distribution with Known Shape Based on Skewness and Kurtosis
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Última modificación: 2024.11.14 07:32 (GMT)