Título original:
Scientific Researches in Atomic Force Microscopy
Contenido del libro:
Este libro esclarece las investigaciones científicas en el campo de la microscopía de fuerza atómica.
La invención del microscopio de fuerza atómica (AFM) trajo consigo cambios drásticos en el campo del análisis de superficies. Demostró ser un recurso y un método de investigación fundamental, utilizado para el estudio cualitativo y cuantitativo de superficies con resoluciones subnanométricas.
Además, las muestras analizadas con este microscopio no necesitan procedimientos de preparación previos. Esto evita cualquier alteración o efecto adverso que pueda dañar la muestra, a la vez que permite un estudio tridimensional de la superficie exterior. Este libro presenta los últimos trabajos realizados por maestros de este método en todo el mundo.
Este método ha tenido una gran aceptación en la obtención de información importante en diversos campos. Desde su creación en 1986, ha encontrado múltiples usos en los campos de la fabricación, la investigación y el avance.
Otros datos del libro:
| ISBN: | 9781632384096 |
| Autor: | |
| Editorial: | |
| Idioma: | inglés |
| Encuadernación: | Tapa dura |
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