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Contenido del libro:
La microscopía electrónica de barrido (SEM) se utiliza a menudo en el análisis de fallos de plásticos cuando la microscopía óptica no puede proporcionar imágenes de suficiente resolución.
Las imágenes SEM también proporcionan un mayor contraste, en particular de las texturas superficiales. El MEB también resulta ventajoso con superficies muy oscuras y materiales transparentes.
Este libro es una completa colección sin igual de imágenes SEM que abarca temas como las propiedades superficiales, la adhesión, la unión, la fractura y otros tipos de fallo de las piezas de plástico, que tienen una importancia decisiva para el éxito económico de las operaciones de fabricación de plásticos.
Otros datos del libro:
| ISBN: | 9781569905029 |
| Autor: | |
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| Encuadernación: | Tapa dura |
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