Reflectometría de neutrones y rayos X: Fenómenos emergentes en interfaces de heteroestructuras

Título original:

Neutron and X-ray Reflectometry: Emerging phenomena at heterostructure interfaces

Contenido del libro:

El campo de las películas ultrafinas, un subgrupo de los nanomateriales, ha experimentado un auge de la investigación en los últimos 30 años. Los estudios se han realizado principalmente mediante reflectometría de neutrones y rayos X.

La técnica de reflectometría de neutrones polarizados o PNR es una herramienta no destructiva única para comprender el magnetismo de las películas delgadas en la escala de longitud mesoscópica. Este libro presenta las técnicas de reflectometría de rayos X y de neutrones y cómo pueden utilizarse para explorar la estructura de la interfaz y el magnetismo a escala de longitud mesoscópica en películas delgadas y multicapas. El texto cubre los principios básicos de la reflectividad de neutrones y rayos X y los diferentes modos de reflectividad de neutrones con muchos ejemplos útiles.

El texto de referencia es útil para los estudiantes de investigación que trabajan en el campo del magnetismo de interfase en películas delgadas y multicapas. Características principales: Introduce al lector en el campo de la reflectometría, especialmente la reflectometría de neutrones polarizados y la reflectometría de rayos X.

Familiariza a los investigadores con la importancia de las propiedades de la interfase en películas delgadas. Demuestra con ejemplos cómo se pueden determinar las propiedades con una resolución subnanométrica.

Proporciona un resumen con un gran número de ejemplos contemporáneos y referencias.