Procesamiento cuantitativo de datos en microscopía de sonda de barrido: Aplicaciones Spm para nanometrología

Título original:

Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: Spm Applications for Nanometrology

Contenido del libro:

La medición exacta a escala nanométrica (nanometrología) es una herramienta fundamental para las aplicaciones nanotecnológicas avanzadas, en las que las cantidades exactas y la precisión de ingeniería superan las capacidades de las técnicas e instrumentos de medición tradicionales.

La microscopía de sonda de barrido (SPM) crea una imagen de una muestra mediante el barrido con una sonda física; la resolución obtenida con esta técnica, que no está limitada por la longitud de onda de la luz o los electrones, puede resolver átomos. Entre los instrumentos de SPM se encuentran el microscopio de fuerza atómica (AFM) y el microscopio de efecto túnel (STM).

A pesar de los enormes avances que ha experimentado la microscopía de barrido (SPM) en los últimos veinte años, su potencial como herramienta de medición cuantitativa no se ha aprovechado plenamente, debido a problemas como la complejidad de la interacción entre la punta y la muestra. En este libro, Petr Klapetek utiliza las últimas investigaciones para desvelar la SPM como herramienta de nanometrología en campos tan diversos como la nanotecnología, la física de superficies, la ingeniería de materiales, la óptica de películas delgadas y las ciencias de la vida. La considerable experiencia de Klapetek en el procesamiento cuantitativo de datos, utilizando herramientas de software, le permite no sólo explicar las técnicas de microscopía, sino también desmitificar el análisis y la interpretación de los datos recogidos.

Además de los principios esenciales y la teoría de la metrología SPM, Klapetek proporciona a los lectores una serie de ejemplos trabajados para demostrar formas típicas de resolver problemas en el análisis SPM. Los datos fuente de los ejemplos, así como la mayoría de las herramientas de software libre descritas, están disponibles en un sitio web complementario.