Modelización del análisis tensorial de redes (Tan) para el análisis de la integridad de la señal y la CEM en placas de circuito impreso

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Modelización del análisis tensorial de redes (Tan) para el análisis de la integridad de la señal y la CEM en placas de circuito impreso (Blaise Ravelo)

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Título original:

Tensorial Analysis of Networks (Tan) Modelling for PCB Signal Integrity and EMC Analysis

Contenido del libro:

Este libro describe una metodología de modelización rápida, precisa y flexible para PCB. El modelo utiliza el concepto de análisis tensorial de redes (TAN) basado en los métodos de Kron y Kron-Branin adaptados para su uso en EMC por O. Maurice. El enfoque TAN se aplica al análisis SI y de compatibilidad electromagnética (CEM) de las PCB.

Cada capítulo presenta una metodología que consiste en la formulación del problema, la descripción del circuito clásico, los elementos primitivos TAN, la elaboración de la topología del grafo TAN, la matematización de la métrica del problema y la resolución del problema planteado basada en algoritmos rutinarios de Python y Matlab. Este enfoque metódico se ha aplicado a los siguientes temas: Conocimientos básicos para la práctica de TAN para la investigación de SI/PI/EMC de PCB; análisis de componentes primitivos de PCB con TAN; cálculo analítico de matrices Z/Y/T/S de trazas de PCB con enfoque TAN; modelado rápido de parámetros S de Kron-Branin de estructura de guía de onda rectangular (RWG) mediante reducción de impedancia de malla; modelado TAN en el dominio del tiempo de sistema de PCB con método de Kron; análisis directo en el dominio del tiempo con método TAN para modelado de PCB; acoplamiento entre campo EM y PCB multicapa con MKME; modelización de emisiones conducidas (CE) EMC TAN; modelización de susceptibilidad conducida (CS) EMC TAN de PCB; modelización de susceptibilidad radiada (RS) EMC TAN de PCB; modelo TAN de acoplamiento de sonda de bucle en cable corto coaxial apantallado; modelo EMC conducido de comportamiento no lineal de una PCB mixta basada en ADC bajo interferencia de radiofrecuencia (RFI); predicción de campo lejano combinando simulaciones con mediciones de campo cercano para evaluación EMI de PCB; y elemento de información para modelización numérica de PCB.

Con su enfoque altamente sistemático para abordar los métodos de modelado TAN, este libro proporciona información clave y soluciones novedosas a los diseñadores y fabricantes de circuitos y sistemas electrónicos analógicos, de RF, digitales y de señal mixta.

Otros datos del libro:

ISBN:9781839530494
Autor:
Editorial:
Encuadernación:Tapa dura

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Última modificación: 2024.11.14 07:32 (GMT)