Microscopía electrónica de barrido

Título original:

Scanning Electron Microscopy

Contenido del libro:

Los haces finos de electrones e iones focalizados constituyen una parte inevitable de los métodos e instrumentos empleados en diversos campos científicos. Los MEB están bien instrumentados y complementados con técnicas y métodos avanzados, por lo que presentan infinitas posibilidades en los ámbitos de la medición cuantitativa de topologías de objetos, la obtención de imágenes de superficies, la realización de análisis elementales y las características electrofísicas locales de estructuras semiconductoras.

La creación de microestructuras y nanoestructuras implica un uso extensivo del haz electrónico de enfoque fino. Este libro se centra en diversas cuestiones relacionadas con la microscopía electrónica de barrido, abarcando tanto aspectos teóricos como prácticos.

Numerosos temas se organizan en dos secciones, Ciencia de los materiales y Materiales nanoestructurados para la industria electrónica. Este libro incluye contribuciones de investigadores y expertos de renombre en este campo.