Metrología óptica de campo completo y aplicaciones

Título original:

Full Field Optical Metrology and Applications

Contenido del libro:

Los métodos y técnicas de metrología óptica de campo completo existen desde los primeros experimentos de interferometría de Thomas Young en el siglo XIX. Este libro presenta con más detalle las técnicas ópticas sin contacto basadas en el efecto moteado. También abarca la metrología de superficies y explora otras características relacionadas con la superficie, como la deformación, la tensión, la vibración, el contorno y sus desplazamientos x, y y z (acoplados como vectores en 2D y 3D). Además, el libro presenta métodos modernos de recuperación de fase, tomografía de coherencia óptica (OCT) y el método de Moir.

El libro considera los fundamentos teóricos y explora una serie de aplicaciones para la metrología óptica de campo completo que son conocidas por su amplio uso en muchas áreas de interés como la biomedicina, el control de calidad, la teledetección y el sondeo, y el diseño de fabricación.

Los científicos e ingenieros que buscan un libro de referencia que ofrezca un trabajo detallado sobre métodos/técnicas en metrología basada en moteado de campo completo son los destinatarios clave de este texto.

Características principales

⬤ Proporciona fundamentos sobre el tema clásico de la interferometría.

⬤ Prosigue varias aplicaciones para la metrología óptica de campo completo que son conocidas por su amplio uso en muchas áreas de interés, como la biomedicina, el control de calidad, la teledetección y el sondeo, y el diseño de fabricación.

⬤ Incluye una descripción completa de la metodología para realizar interferometría holográfica/de picos digital 3D y holografía electrónica, ambas no disponibles en otros textos.