Métodos de prueba para la detección de fallos en circuitos electrónicos

Título original:

Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits

Contenido del libro:

Este libro incluye dos metodologías de prueba basadas en sensores incorporados (BIS) y una técnica basada en la optimización. La primera parte propone dos novedosos sensores incorporados (BIS) para pruebas de circuitos digitales CMOS y analógicos.

Los BIS no tienen degradación de tensión, son capaces de detectar, identificar y localizar fallos de circuito abierto y cortocircuito, tienen realizaciones sencillas con un área y un tiempo de detección muy pequeños. El BIS se utiliza para probar una célula multiplicadora 4x4 en la que se detectan y localizan todos los fallos inyectados. El otro BIS está dedicado a probar circuitos analógicos.

Se aplica para probar dos conocidos bloques de construcción analógicos, el Amplificador Operacional de Realimentación de Corriente (CFOA) y el Amplificador Operacional de Transresistencia (OTRA). El BIS propuesto prueba las características terminales de los bloques analógicos.

Se realizan simulaciones para probar un filtro analógico universal basado en CFOA y un filtro universal basado en OTRA. En la segunda parte se propone un algoritmo de prueba para detectar fallos paramétricos simples y dobles en circuitos analógicos mediante la estimación de los valores reales de los parámetros del CUT.

El algoritmo se aplica a un filtro pasa banda de segundo orden Sallen-Key y las simulaciones muestran que todos los fallos inyectados se detectan y diagnostican correctamente.