Métodos de modelización de estructuras ópticas no homogéneas

Título original:

Modeling Methods of Optical Inhomogeneous Structures

Contenido del libro:

El trabajo sería útil para especialistas en el campo de la elipsometría e ingenieros dedicados a la tarea de medir la superficie rugosa y de determinar las propiedades de estructuras o películas no homogéneas, tales como: óxidos polimorfos de titanio o vanadio, nitruro de silicio después de la oxidación, defectos de crecimiento de la película MBE.

El trabajo sería útil para todos aquellos que deseen mejorar la calidad de la estimación de los parámetros deseados; siempre que el experimentador utilice el nuevo algoritmo del procedimiento de minimización con análisis estadístico de un conjunto de soluciones encontradas y variación paso a paso de las fronteras simplex que restringen el dominio de los valores deseados.