Título original:
On-Wafer Microwave Measurements and de-Embedding
Contenido del libro:
Este nuevo recurso autorizado presenta los fundamentos de los equipos de medición de analizadores de redes y la resolución de los errores que se producen en el proceso de medición de microondas en oblea.
Otros datos del libro:
| ISBN: | 9781630810566 |
| Autor: | |
| Editorial: | |
| Idioma: | inglés |
| Encuadernación: | Tapa dura |
| Año de publicación: | 2016 |
| Número de páginas: | 256 |
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