La práctica de TOF-SIMS: Espectrometría de masas de iones secundarios por tiempo de vuelo

Título original:

The Practice of TOF-SIMS: Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Contenido del libro:

La espectrometría de masas de iones secundarios en tiempo de vuelo, TOF-SIMS, es una técnica analítica muy sensible a la superficie que proporciona información sobre la composición con una resolución lateral submicrónica. Para determinados materiales, TOF-SIMS proporciona una sensibilidad sin igual junto con una excelente reproducibilidad, y como técnica de espectrometría de masas, también proporciona una excelente especificidad.

De los métodos analíticos disponibles, es uno de los más sensibles a las superficies, pero los principios físicos en los que se basa son también los menos conocidos. Este volumen describe la instrumentación, los principios físicos que subyacen a la técnica en la medida en que se comprenden, y proporciona un enfoque práctico para la interpretación de los datos TOF-SIMS.

El uso de métodos avanzados de procesamiento de datos, como la estadística multivariante, se describe de una manera muy accesible. Con una formación básica en química y física, el libro será de utilidad para cualquier estudiante interesado en esta técnica.