(Ipf)Fiabilidad microelectrónica

Título original:

(Ipf)Microelectronic Reliability

Contenido del libro:

Texto/referencia que abarca desde los conceptos teóricos de los modelos de fiabilidad y las distribuciones de fallos hasta el procesamiento y ensayo de microcircuitos de GaAs.

Proporciona antecedentes sobre el desarrollo de procedimientos de garantía de calidad y verificación. Algunos de los nuevos cambios que se están desarrollando para hacer frente a las presiones ejercidas.