Introducción a la espectrometría de masas de iones secundarios por tiempo de vuelo (Tof-Sims) y su aplicación a la ciencia de materiales

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Título original:

An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science

Contenido del libro:

Este libro destaca la aplicación de la espectrometría de masas de iones secundarios por tiempo de vuelo (ToF-SIMS) para el análisis de superficies de alta resolución y la caracterización de materiales.

Además de ofrecer una breve visión general de los principios de SIMS, también proporciona ejemplos de cómo se utiliza ToF-SIMS de doble haz para investigar una serie de sistemas y propiedades de los materiales. A lo largo de los años, la instrumentación SIMS ha cambiado drásticamente desde que se desarrollaron los primeros espectrómetros de masas de iones secundarios.

En el pasado, los instrumentos se dedicaban al perfilado en profundidad de materiales mediante corrientes de haces de iones de alta intensidad para analizar desde la superficie cercana a la masa de los materiales (SIMS dinámico), o instrumentos de tiempo de vuelo que producían complejos espectros de masas de la superficie más externa de las muestras, utilizando corrientes de haces muy bajas (SIMS estático). Ahora, con el desarrollo de los instrumentos de doble haz, estos dos campos tan distintos se solapan.