Introducción a la elipsometría espectroscópica de materiales de película delgada: Instrumentación, análisis de datos y aplicaciones

Título original:

Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications

Contenido del libro:

Un texto único que ofrece una introducción al uso de la elipsometría espectroscópica para la caracterización de nuevos materiales

En Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis and Applications, un equipo de eminentes investigadores ofrece una exploración incisiva de cómo se utiliza la técnica experimental tradicional de la elipsometría espectroscópica para caracterizar las propiedades intrínsecas de nuevos materiales. El libro se centra en los dicalcogenuros bidimensionales de metales de transición (2D-TMD), de gran importancia científica y tecnológica, los óxidos magnéticos como los materiales de manganita y los superconductores no convencionales, incluidos los sistemas de óxido de cobre.

Los distinguidos autores discuten la caracterización de propiedades, como las estructuras electrónicas, las propiedades interfaciales y la consiguiente dinámica de cuasipartículas en materiales cuánticos novedosos. Junto con estudios de casos ilustrativos y específicos sobre cómo se utiliza la elipsometría espectroscópica para estudiar las propiedades ópticas y de cuasipartículas de sistemas novedosos, el libro incluye: Introducciones exhaustivas a los principios básicos de la elipsometría espectroscópica y sistemas fuertemente correlacionados, incluyendo óxidos de cobre y manganitas Exploraciones exhaustivas de dicalcogenuros bidimensionales de metales de transición Discusiones prácticas de sistemas de grafeno monocapa y sistemas de niquelato Exámenes en profundidad de posibles desarrollos y aplicaciones futuras de la elipsometría espectroscópica.

Perfecto para estudiantes de máster y doctorado en física y química, Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials también se ganará un lugar en las bibliotecas de quienes estudian ciencias de los materiales y buscan una referencia única para las aplicaciones de la elipsometría espectroscópica a nuevos materiales desarrollados.