Física e ingeniería de la fiabilidad: Modelización del tiempo hasta el fallo

Opiniones de los lectores

El libro es elogiado por su exhaustiva cobertura de la física de la fiabilidad, con especial atención a la fiabilidad de los circuitos integrados (CI). Está bien estructurado, comenzando por los conceptos fundamentales y avanzando hacia temas complejos, con el apoyo de ejemplos del mundo real y problemas prácticos.

Explicación exhaustiva de la física de la fiabilidad, excelente para aplicaciones de ingeniería, fuerte énfasis en la fiabilidad de los CI, enfoque fundacional en termodinámica, ejemplos prácticos y problemas para una mejor comprensión.

Ninguno mencionado en las reseñas.

(basado en 4 opiniones de lectores)

Título original:

Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

Contenido del libro:

Proporciona un libro de texto completo sobre la física de la fiabilidad de los semiconductores, desde los fundamentos hasta las aplicaciones.

Explica los fundamentos de la física de la fiabilidad y las herramientas de ingeniería para crear mejores productos.

Contiene formación y herramientas estadísticas dentro del texto.

Incluye nuevos capítulos sobre Física de la degradación, y Resonancia y degradación inducida por resonancia.