Física e ingeniería de la fiabilidad: Modelización del tiempo hasta el fallo

Título original:

Reliability Physics and Engineering: Time-To-Failure Modeling

Contenido del libro:

Proporciona un libro de texto completo sobre la física de la fiabilidad de los semiconductores, desde los fundamentos hasta las aplicaciones.

Explica los fundamentos de la física de la fiabilidad y las herramientas de ingeniería para crear mejores productos.

Contiene formación y herramientas estadísticas dentro del texto.

Incluye nuevos capítulos sobre Física de la degradación, y Resonancia y degradación inducida por resonancia.