Espectrometría de masas de iones secundarios: Aplicaciones para perfiles de profundidad y caracterización de superficies

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Título original:

Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization

Contenido del libro:

Este libro se ha escrito para explicar una técnica que requiere la comprensión de muchos detalles para obtener e interpretar correctamente los datos obtenidos.

También servirá de referencia para quienes necesiten proporcionar datos SIMS. El libro contiene más de 200 figuras y las referencias permiten seguir el desarrollo de SIMS y comprender los numerosos detalles de la técnica.