Cristalografía de la estructura electrónica y motivos funcionales de los materiales

Cristalografía de la estructura electrónica y motivos funcionales de los materiales (Guo-Cong Guo)

Título original:

Electronic Structure Crystallography and Functional Motifs of Materials

Contenido del libro:

Recurso detallado sobre el método de cristalografía de estructura electrónica para revelar la estructura electrónica experimental y las relaciones estructura-propiedades de los materiales funcionales.

Electronic Structure Crystallography and Functional Motifs of Materials describe la cristalografía de estructura electrónica y los motivos funcionales de los materiales, dos de los temas más desafiantes para realizar el diseño racional de materiales funcionales de alto rendimiento, haciendo hincapié en las propiedades físicas y las relaciones estructura-propiedades de los materiales funcionales utilizando como ejemplo materiales ópticos no lineales.

El texto ilustra claramente cómo extraer información experimental de la estructura electrónica y las propiedades fisicoquímicas relevantes de los materiales basándose en las teorías y métodos de la cristalografía de rayos X y la química cuántica. También se cubren las habilidades prácticas de los estudios de densidad de carga utilizando fuentes experimentales de rayos X, que son particularmente importantes para la futura popularización y desarrollo de la cristalografía de estructura electrónica.

Este libro también presenta las teorías relacionadas y las técnicas de refinamiento implicadas en el uso de métodos de dispersión (principalmente difracción de monocristal de rayos X, así como dispersión de neutrones polarizados y dispersión Compton) para determinar estructuras electrónicas experimentales, incluyendo la densidad electrónica experimental, la función de onda electrónica experimental y la matriz de densidad electrónica experimental de materiales cristalinos.

Cristalografía de la estructura electrónica y motivos funcionales de los materiales incluye información sobre:

⬤ Marco básico y supuestos de los cálculos de primer principio, matriz de densidad y función de densidad, y métodos de Hartree-Fock (HF) y Kohn-Sham (KS).

⬤ Análisis de átomos topológicos en moléculas, análisis de interacciones químicas, granulación gruesa y partición energética de la matriz de densidad, y partición espacial restringida.

⬤ Principios de medición de la estructura electrónica, incluido el análisis de vibraciones térmicas, experimentos de dispersión y algoritmo de refinamiento de la estructura electrónica experimental.

⬤ Modelo de átomo independiente, modelo multipolar, modelo de función de onda restringida por rayos X y otros modelos de densidad electrónica.

Cristalografía de la estructura electrónica y motivos funcionales de los materiales es un libro de texto o de referencia ideal para estudiantes de posgrado e investigadores en química, física y ciencias de los materiales para el estudio de las estructuras y propiedades de los materiales cristalinos funcionales.

Otros datos del libro:

ISBN:9783527352203
Autor:
Editorial:
Idioma:inglés
Encuadernación:Tapa dura
Año de publicación:2024
Número de páginas:240

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Última modificación: 2024.11.14 07:32 (GMT)