Caracterización y control de defectos en semiconductores

Título original:

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors

Contenido del libro:

Este libro, una revisión actualizada de los métodos experimentales y teóricos utilizados para estudiar los defectos en los semiconductores, se centra en los últimos avances impulsados por los requisitos de los nuevos materiales, incluidos los nitruros, los semiconductores de óxido y los semiconductores bidimensionales.

Escrito por un equipo internacional y editado por un investigador de gran prestigio en este campo, el libro ofrece una cobertura exhaustiva de diversas técnicas de caracterización y sugiere métodos para controlar los defectos y, por tanto, las propiedades de los semiconductores.