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Título original:
X-Ray Structure Analysis
Contenido del libro:
Este libro ofrece una visión general compacta sobre cristalografía, simetría y aplicaciones de los conceptos de simetría.
El autor explica la teoría que subyace a la dispersión y difracción de la radiación electromagnética. Se analiza la difracción de rayos X en monocristales, así como la evaluación cuantitativa de patrones de polvo.
El libro también presenta las aplicaciones de la teoría de grupos y las propiedades tensoriales de los cristales.
Otros datos del libro:
| ISBN: | 9783110610703 |
| Autor: | |
| Editorial: | |
| Encuadernación: | Tapa blanda |
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