Advances in Imaging and Electron Physics: Volumen 225

Título original:

Advances in Imaging and Electron Physics: Volume 225

Contenido del libro:

Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 226 fusiona dos publicaciones periódicas de larga duración, Advances in Electronics and Electron Physics y Advances in Optical and Electron Microscopy.

Los capítulos de esta edición cubren Caracterización de las propiedades de los nanomateriales mediante FE-TEM, Fuentes de electrones de emisión de campo frío: De mayor brillo a haces ultrarrápidos, Cada electrón cuenta: Hacia el desarrollo de fuentes de electrones con aberraciones optimizadas y corregidas, y mucho más. La serie incluye artículos sobre la física de los dispositivos de electrones (especialmente los semiconductores), la óptica de partículas a altas y bajas energías, la microlitografía, la ciencia de la imagen, el tratamiento digital de imágenes, la propagación de ondas electromagnéticas, la microscopía electrónica y los métodos informáticos utilizados en todos estos campos.