Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: Una introducción (2ª edición)

Opiniones de los lectores

Actualmente no hay opiniones de lectores. La calificación se basa en 5 votos.

Título original:

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy: An Introduction (2nd Edition)

Contenido del libro:

Aberration-Corrected Imaging in Transmission Electron Microscopy ofrece una introducción a la obtención de imágenes de microscopía electrónica de resolución atómica con corrección de aberraciones en ciencias físicas y de los materiales. Cubre tanto el modo de transmisión de haz ancho (TEM; microscopía electrónica de transmisión) como el modo de transmisión de barrido (STEM; microscopía electrónica de transmisión de barrido).

El libro está estructurado en tres partes. La primera parte presenta los fundamentos de la microscopía electrónica de resolución atómica convencional en los modos TEM y STEM. En esta parte también se describen los límites de los microscopios electrónicos convencionales y los posibles artefactos causados por las aberraciones intrínsecas de las lentes que son inevitables en estos instrumentos.

En la segunda parte se presentan los conceptos ópticos fundamentales de los electrones y se ofrece así una breve introducción a la óptica electrónica. Basándose en las partes primera y segunda del libro, la tercera parte se centra en la corrección de aberraciones; describe las diversas aberraciones en microscopía electrónica e introduce los conceptos de correctores de aberración esférica y correctores de aberración avanzados, incluidos los correctores de aberración cromática.

Esta parte también proporciona directrices sobre cómo optimizar las condiciones de obtención de imágenes para STEM y TEM de resolución atómica. Esta segunda edición ha sido completamente revisada y actualizada con el fin de incorporar los logros tecnológicos y científicos más recientes que se han realizado desde que apareció la primera edición en 2010.